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MBE生长的高质量AlGaAs/InGaAs双δ掺杂PHEMT结构的材料
作者姓名:曹昕  曾一平  孔梅影  王保强  潘量  张昉昉  朱战萍
作者单位:中国科学院半导体研究所!北京100083
基金项目:“九五”国家重点科技攻关项目97-770-01-01支持课题[Poject Supported by Natlonal Key Science and Technology Project in“9th Five Year Plan”Program of China(No.97-770-01-01)].
摘    要:用 MBE方法制备的 PHEMT微结构材料 ,其 2 DEG浓度随材料结构的不同在 2 .0— 4.0× 1 0 12 cm- 2 之间 ,室温霍耳迁移率在 50 0 0— 650 0 cm2 · V- 1· s- 1之间 .制备的 PHEMT器件 ,栅长为 0 .7μm的器件的直流特性 :Idss~ 2 80 m A/mm,Imax~ 52 0— 580 m A/mm,gm~ 32 0— 40 0 m S/mm,BVDS>1 5V( IDS=1 m A/mm) ,BVGS>1 0 V,微波特性 :P0 ~ 60 0— 90 0 m W/mm,G~ 6— 1 0 d B,ηadd~ 40— 60 % ;栅长为 0 .4μm的器件的直流特性 :Imax~ 80 0 m A/mm,gm>40 0 m S/mm.

关 键 词:PHEMT   MBE   AlGaAs/InGaAs
文章编号:0253-4177(2000)09-0934-03
修稿时间:2000-06-06
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