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| 单片机技术在时间继电器测试中的应用 | |
| 引用本文： | 钱金川,贾文军,朱守敏.单片机技术在时间继电器测试中的应用[J].低压电器,2010(2):53-56. |
| 作者姓名： | 钱金川 贾文军 朱守敏 |
| 作者单位： | 1. 上海高企电器有限公司,上海,201602 2. 三信国际电器上海有限公司 3. 浙江泰华电器有限公司,浙江,温州,325604 |
| 摘 要： | 介绍了时间继电器延时参数的测试，并对单片机测试框图及其软件流程进行了相应介绍。此外，对检测的外围线路以及在检测过程中的电磁兼容EMC问题进行了相关介绍和说明。 |
| 关 键 词： | 时间继电器 延时参数 测试 单片机 电磁兼容 |
Application of SCM Technology in Time Relay Test |
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| QIAN Jinchuan,JIA Wenjun,ZHU Shoumin.Application of SCM Technology in Time Relay Test[J].Low Voltage Apparatus,2010(2):53-56. | |
| Authors: | QIAN Jinchuan JIA Wenjun ZHU Shoumin |
| Affiliation: | 1.Shanghai COCH Electric Co.;Ltd.;Shanghai 201602;China;2.SASSIN International Electric Shanghai Co.;Shanghai 201209;3.Zhejiang Taihua Electric Appliances Co.;Wenzhou 325604;China |
| Abstract: | Time-delay parameter test of time relay,SCM test block diagram and software flowchart were introduced.In addition,test periphery circuit and electromagnetic compatibility(EMC) problems during test progress were explained. |
| Keywords: | time relay time-delay parameter test single chip microcompnter （ SCM ） electromagnetic compatibility（EMC） |
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