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一种新型过温保护电路
引用本文:王永顺,贾泳杰.一种新型过温保护电路[J].半导体技术,2010,35(10).
作者姓名:王永顺  贾泳杰
作者单位:兰州交通大学电子与信息工程学院,兰州,730070
基金项目:兰州市科技发展计划项目 
摘    要:采用CSMC 0.5 μm工艺,设计了一种新型过温保护电路.从检测温度和控制温度两方面考虑,通过优化电路结构,提出一种新型系统解决方案.在不引入热振荡的前提下,实现稳定电路温度和输出关断信号的双重功能.采用Cadence的Spectre仿真器进行仿真,结果表明,温度在-50~200℃时,PTAT电压以10.5 mV/℃变化,过温保护开启温度为105℃,具有滞迟功能.成功流片后对芯片进行测试,结果显示,在20~130 ℃内,PTAT电压灵敏度约为10 mV/℃,过温保护开启温度的实测值与仿真值的偏差小于3℃,滞迟范围为20℃.该保护电路是开关电源IP的重要组成部分,在设计过程中时刻考虑其工艺健壮性和可重用性的约束条件,确保其可移植性.

关 键 词:功率密度  过温保护  热滞回  与绝对温度成正比  健壮性

Novel Over-Thermal Protection Circuit
Wang Yongshun,Jia Yongjie.Novel Over-Thermal Protection Circuit[J].Semiconductor Technology,2010,35(10).
Authors:Wang Yongshun  Jia Yongjie
Affiliation:Wang Yongshun,Jia Yongjie(School of Electronic and Information Engineering,Lanzhou Jiaotong University,Lanzhou 730070,China)
Abstract:
Keywords:power density  over-thermal protection  thermal hysteresis  PTAT  robustness  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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