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利用快速退火法控制非晶硅薄膜中纳米硅粒尺寸
引用本文:薛清,李冠成,王秉坤. 利用快速退火法控制非晶硅薄膜中纳米硅粒尺寸[J]. 半导体技术, 2004, 29(10): 20-21,26
作者姓名:薛清  李冠成  王秉坤
作者单位:淮海工学院数理科学系,江苏,连云港,222005;淮海工学院数理科学系,江苏,连云港,222005;淮海工学院数理科学系,江苏,连云港,222005
摘    要:报道了利用快速退火法控制膜中纳米硅粒大小的方法,讨论了升温快慢与所形成的纳米硅粒大小的关系.

关 键 词:纳米硅  快速热退火  非晶硅
文章编号:1003-353X(2004)10-0020-02

Size Controlling of the Nanoscale Silicon Particles in a-Si:H Films by RTA
XUE Qing,LI Guan-cheng,WANG Bing-kun. Size Controlling of the Nanoscale Silicon Particles in a-Si:H Films by RTA[J]. Semiconductor Technology, 2004, 29(10): 20-21,26
Authors:XUE Qing  LI Guan-cheng  WANG Bing-kun
Abstract:A new method for controlling the size of nanoscale silicon grown by rapid thermal annealing(RTA) on hydrogenated amorphous silicon(a-Si:H) films is reported. The effect of the tem- perature on the formed silicon particles is discussed.
Keywords:nanoscale silicon  rapid thermal annealing  amorphous silicon  
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