| 电子设备环境温度试验方法的研究 |
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| 引用本文： | 金慧琴,王好同,周新力. 电子设备环境温度试验方法的研究[J]. 电子测量与仪器学报, 2002, 16(3): 47-51 |
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| 作者姓名： | 金慧琴 王好同 周新力 |
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| 作者单位： | 海军航空工程学院通信与导航教研室,山东烟台,264001 |
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| 摘 要： | 电子设备的高低温试验是电子设备生产定型的依据之一，在实际应用中单纯的高低温试验并不能完全体现出电子设备对环境温度的适应性，因此必须进行整个环境温度的适应性试验。本文根据电子设备环境温度试验中出现的问题，提出了电子设备环境温度试验的方法，此方法同样适用于电子设备的维修。
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| 关 键 词： | 试验方法 电子设备 环境温度 工作温度 失效温度 |
| 修稿时间： | 2001-01-01 |
Test Method Research of Ambient Temperature for Electronic Equipment |
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| Jin Huiqin Wang Haotong Zhou Xinli. Test Method Research of Ambient Temperature for Electronic Equipment[J]. Journal of Electronic Measurement and Instrument, 2002, 16(3): 47-51 |
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| Authors: | Jin Huiqin Wang Haotong Zhou Xinli |
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| Abstract: | High and low temperature test is one of the foundations of electronic equipment customization. Simple high and low temperature test cannot reflect the electronic equipment adaptability for ambient temperature. Adaptability test of ambient temperature must be done. The test method of electronic equipment ambient temperature is proposed on the basis of trouble in the electronic equipment test in this paper. This method can be applied to the maintenance of electronic equipment similarly. |
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| Keywords: | Electronic equipment ambient temperature working temperature failure temperature. |
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