| 基于C8051F023单片机的存储测试系统设计 |
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| 引用本文： | 王志浩,李东光,李红旗,何光林.基于C8051F023单片机的存储测试系统设计[J].弹箭与制导学报,2006,26(1):638-639. |
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| 作者姓名： | 王志浩 李东光 李红旗 何光林 |
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| 作者单位： | 北京理工大学,机电工程学院,北京,100081 |
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| 摘 要： | 相对于采用传统51单片机的存储测试系统来说,采用含有丰富片内资源的新型单片机更具优势.文中分析比较了两种不同的设计方案,在此基础上,详细介绍了基于C8051F023单片机的存储测试系统的软硬件设计.实验表明,该系统能够可靠工作,完成预期的设计要求.
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| 关 键 词： | 存储测试 单片机 优化设计 |
| 修稿时间： | 2005年9月28日 |
Design of Stored Testing and Measuring System Based on C8051F023 |
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| WANG Zhihao,LI Dongguang,LI Hongqi,HE Guanglin.Design of Stored Testing and Measuring System Based on C8051F023[J].Journal of Projectiles Rockets Missiles and Guidance,2006,26(1):638-639. |
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| Authors: | WANG Zhihao LI Dongguang LI Hongqi HE Guanglin |
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