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用光电流谱研究多孔硅微腔的光电特性
引用本文:熊卫华,熊祖洪,陆昉.用光电流谱研究多孔硅微腔的光电特性[J].半导体学报,2001,22(9):1127-1130.
作者姓名:熊卫华  熊祖洪  陆昉
作者单位:复旦大学应用表面物理国家重点实验室,上海200433
基金项目:上海市科委资助项目;;
摘    要:利用光电流谱对全硅基多孔硅微腔的吸收特性进行了研究 ,在光电流谱中观察到 λ1 =742 nm主峰 .同时也对多孔硅微腔的 PL 谱和单层多孔硅的光电流谱进行了测量 ,结合有效折射率方法和菲涅耳公式 ,对照 PL 谱和单层多孔硅的光电流谱 ,对常温下多孔硅微腔的光电流谱进行解释 .

关 键 词:光电流    多孔硅微腔    PL谱
文章编号:0253-4177(2001)09-1127-04
修稿时间:2000年10月3日

Absorption of Porous Silicon Microcavitiesvia Photocurrent Measurement
XIONG Wei-hua,XIONG Zu-hong and LU Fang.Absorption of Porous Silicon Microcavitiesvia Photocurrent Measurement[J].Chinese Journal of Semiconductors,2001,22(9):1127-1130.
Authors:XIONG Wei-hua  XIONG Zu-hong and LU Fang
Abstract:
Keywords:photocurrent  porous silicon microcavities  PL spectrum
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