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| 平板型同轴测量线的设计 | |
| 引用本文： | 文健.平板型同轴测量线的设计[J].电子技术,1966(10). |
| 作者姓名： | 文健 |
| 摘 要： | 测量线是微波测量技术中最基本的测试仪器之一,它可用来测量微波传输系统中驻波系数、波长和阻抗等.在测量衰减常数、谐振腔品质因数及绝缘材料的相对介电常数等参数时都要用到测量线.它也是微波仪器或微波元件校试中不可缺少的仪器.平板型同轴测量线是一般同轴测量线的变形,其基本工作原理和一般的开槽同轴测量线相同.本文将简单介绍平板型同轴测量线的基本工作原理,并讨论其设计方法. |
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