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激光器全反射介质膜的制作原理与光学厚度测定
引用本文:王玉平,张钧.激光器全反射介质膜的制作原理与光学厚度测定[J].真空,2007,44(3):16-18.
作者姓名:王玉平  张钧
作者单位:河北理工大学轻工学院,河北,唐山,063020
摘    要:阐述了光学薄膜的镀制原理、反射率推算,阐述了镀制全反射介质薄膜过程中光学厚度的测定方法-极值法测量的原理和所用光线的波长,阐述了得到高反射率的条件,给出了测量膜厚的实验系统装置,并叙述了镀制17层全反射介质薄膜的过程和测量的方法,最后给出了17层全反射介质薄膜的反射率测量结果。

关 键 词:薄膜光学  反射率  透射率  相干光  位相  波长
文章编号:1002-0322(2007)03-0016-03
修稿时间:2006-09-10

Preparation of laser's full-reflection dielectric film and optical thickness measuremtnt
WANG Yu-ping,ZHANG Jun.Preparation of laser''''s full-reflection dielectric film and optical thickness measuremtnt[J].Vacuum,2007,44(3):16-18.
Authors:WANG Yu-ping  ZHANG Jun
Affiliation:College of Light Industry, Hebei Polytechnic University, Tangshan 063020, China
Abstract:
Keywords:film optics  reflectivity  transmissivity  coherent light  phase  wavelength
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