| 红外焦平面失效现象仿真研究 |
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| 引用本文： | 林加木,丁瑞军.红外焦平面失效现象仿真研究[J].激光与红外,2007,37(B09):1005-1009. |
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| 作者姓名： | 林加木 丁瑞军 |
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| 作者单位： | [1]中国科学院上海技术物理研究所,上海200083 [2]中国科学院研究生院,北京100039 |
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| 摘 要： | 在性能较差的红外焦平面器件中，其背景图像经常出现一些现象，比如“黑线”、“锯齿”、“滴落圆”等，其原因可能是红外焦平面器件有缺陷或其读出电路存在问题。本文针对红外焦平面可能出现的各种缺陷，将其等效为失效性模型，用EDA软件分别对采用DI和CTIA两种读出结构的红外焦平面进行失效性等效模拟分析。通过对3×3和10×10规模的红外焦平面输出信号进行模拟，分析了背景图像中失效现象产生的原因。红外焦平面失效现象模拟分析得出的结果，为红外焦平面读出电路结构的改进提供了参考依据。
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| 关 键 词： | 红外焦平面 读出电路 失效性 模拟 |
| 文章编号： | 1001-5078（2007）增刊-1005-05 |
| 修稿时间： | 2007-06-19 |
Simulation Study of Infrared Focal Plane Arrays Invalidation Phenomenon |
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| LIN Jia-mu, DING Rui-jun.Simulation Study of Infrared Focal Plane Arrays Invalidation Phenomenon[J].Laser & Infrared,2007,37(B09):1005-1009. |
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| Authors: | LIN Jia-mu DING Rui-jun |
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| Affiliation: | 1. Shanghai Institute of Technical Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200083, China; 2. Graduate School of the Chinese Academy of Sciences, Beijing 100039, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | IRFPA readout circuit invalidation simulation |
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