|
|||||
|
|
| 单板机LEED强度测量仪 | |
| 作者姓名： | 单冶良 刘庆华 陆家和 蔡思民 高伊娜 |
| 作者单位： | 清华大学(单冶良，刘庆华，陆家和，蔡思民)，清华大学(高伊娜) |
| 摘 要： | 本文介绍用最简单的计算机(单板机)配合摄像机测量低能电子衍射强度特性的装置。这台装置具有结构紧凑、原理简易、操作方便和价格低廉等特点。它不仅在测量低能电子衍射强度特性方面性能良好,也适应于其它衍射图案的强度分析。最后介绍用这台仪器测量的部分实验结果。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||
|
||||||||||||||||
|
||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |