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| CMOS IC抗闩锁能力的提高及闩锁能力的恒定 | |
| 引用本文： | 王建民,邓敏坚.CMOS IC抗闩锁能力的提高及闩锁能力的恒定[J].半导体技术,1986(1). |
| 作者姓名： | 王建民 邓敏坚 |
| 作者单位： | 常州半导体厂 (王建民)，常州半导体厂(邓敏坚) |
| 摘 要： | 本文提出CMOS IC闩锁模式,较为详细地讨论了出现闩锁现象的整个过程,并以此提出改进方法以及如何恒定CMOS IC的抗闩锁能力,其结论为:注入电流在30～50mA以上时,CMOS电路一般不会出现闩锁现象. |
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