| 通用测试平台的讨论 |
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| 引用本文： | 程作仁,李丽,高明伦,张多利. 通用测试平台的讨论[J]. 微电子学与计算机, 2001, 18(5): 4-7,11 |
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| 作者姓名： | 程作仁 李丽 高明伦 张多利 |
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| 作者单位： | 微电子设计研究所, |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(6987010)高等学校博士学科点专项科研基金(98035901)安徽省自然科学基金(98324021) |
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| 摘 要： | 文章着重从结构，管理，工具支持，测试人员的使用及平台的安全性等几个方面对如何建立可升级，参数化的通用测试平台提出一种解决方案，并努力使之具有普适性，以期指导更多的工程实践。
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| 关 键 词： | 通用测试平台 参数化 兼容性 数字电路 |
Research of Universal Test Bench |
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| CHENG Zuo ren,LI Li,GAO Ming lun,ZHANG Duo li. Research of Universal Test Bench[J]. Microelectronics & Computer, 2001, 18(5): 4-7,11 |
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| Authors: | CHENG Zuo ren LI Li GAO Ming lun ZHANG Duo li |
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| Abstract: | A resolving plan about how to establish an upgradeable and parameterized universal test bench is given in this paper by mainly discussing the facets of construction,management,tools supporting,convenient using by verification engineer and security. And making the test bench prevalent and applicable is paid more efforts to instruct more engineering practice. |
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| Keywords: | Test bench Function pattern STA Parameterized |
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