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印制电路板用铝硼硅酸盐玻璃结构与介电性能
引用本文:岳云龙,于晓杰,吴海涛,胡安平,李杨. 印制电路板用铝硼硅酸盐玻璃结构与介电性能[J]. 电子元件与材料, 2008, 27(5): 59-61
作者姓名:岳云龙  于晓杰  吴海涛  胡安平  李杨
作者单位:济南大学,材料科学与工程学院,山东,济南,250022;济南大学,材料科学与工程学院,山东,济南,250022;中国建筑材料科学研究总院特种玻璃纤维与光电功能材料研究所,北京,100024
基金项目:山东省自然科学基金 , 山东省科技攻关项目
摘    要:通过在CaO-Al2O3-B2O3-SiO2玻璃系统中,用氧化硼逐渐替代氧化钙,研究了玻璃介电性能的变化,采用红外光谱和差示扫描量热仪分析了玻璃结构的变化。结果表明:随氧化硼含量增大,玻璃转变温度tg先降低后升高,样品的密度值从2.678降低至2.363g/cm3;室温下,1MHz时εr从6.66降低至5.38,而tanδ从1.71×10–3降低至1.25×10–3。

关 键 词:无机非金属材料  铝硼硅酸盐玻璃  介电性能
文章编号:1001-2028(2008)05-0059-03
修稿时间:2008-01-18

Structure and dielectric properties of aluminoborosilicate glass applied for printed circuit board
YUE Yun-long,YU Xiao-jie,WU Hai-tao,HU An-ping,LI Yang. Structure and dielectric properties of aluminoborosilicate glass applied for printed circuit board[J]. Electronic Components & Materials, 2008, 27(5): 59-61
Authors:YUE Yun-long  YU Xiao-jie  WU Hai-tao  HU An-ping  LI Yang
Affiliation:YUE Yun-long1,YU Xiao-jie1,2,WU Hai-tao1,HU An-ping1,LI Yang1 (1. School of Material Science , Engineering,University of Jinan,Jinan 710071,China,2. ISGFPFM,China Building Materials Academy,Beijing 100024,China)
Abstract:By IR patterns and DSC, the dielectric properties, εr and tan δ, and structure were investigated as a function of boron oxide content, which replaced calcium oxide in aluminoborosilicate glasses. The results show that the glass transition temperature value tg decreases first then increases with boron oxide content increasing; the values of densities decrease from 2.678 to 2.363 g / cm3; the values of εr decrease from 6.66 to 5.38; and the values of tan δ decrease from 1.71×10–3 to 1.25×10–3 at 1 MHz.
Keywords:non-metallic inorganic material  aluminoborosilicate glass  dielectric properties  
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