基于叶片截面线CMM测量数据的ICP配准改进算法

快速、准确地对叶片进行测量是保证加工质量的关键。叶片三坐标测量机测量数据与理论数据之间的配准是数据处理的重要一步。针对传统迭代最近点(Iterative closest point,ICP)配准算法存在的配准精度低,提出一种基于叶片截面线三坐标测量机(Coordinate measuring machine,CMM)测量数据的ICP配准改进算法,将测量点到理论曲线的最小距离作为目标函数进行最近点的求解。首先,计算每一个测量点在理论点集中对应最近点,然后采用三次样条对该最近点及其附近理论点进行样条插值,最后计算测量点距离样条曲线最近点,并将此点作为求得的最近点。该方法在求得一个测量点在理论点集中对应最近点位置的同时,可顺次得到其他测量点在理论点集中的对应最近点,避免全遍历搜索计算。通过实例验证和对比,表明算法有效,精度较高。