首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

嵌入式内存测试方案及高速测试技术—SOC(系统芯片)测试趋势及挑战
摘    要:

关 键 词:嵌入式内存测试 高速测试 SOC 系统芯片 测试趋势
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号