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X荧光光谱法测定聚酯过渡料中二氧化硅含量
引用本文:刘殿丽,赵波,徐艳敏,郑立梅,孙双,赵莹,丁立国. X荧光光谱法测定聚酯过渡料中二氧化硅含量[J]. 聚酯工业, 2018, 0(2): 22-24
作者姓名:刘殿丽  赵波  徐艳敏  郑立梅  孙双  赵莹  丁立国
作者单位:辽阳石化分公司
摘    要:纤维级聚酯中的添加剂为TiO_2,特性聚酯中的添加剂是SiO_2,由纤维级聚酯转产特性聚酯的过程中过渡料中TiO_2逐渐减小,SiO_2含量逐渐增加,过程控制需要快速测定过渡料中SiO_2含量。本文建立了用X荧光光谱法,将聚酯过渡料样品粉碎后压片,采用外标工作曲线法快速测定特性聚酯过渡料中SiO_2的含量,测定一个样品的时间由原来的灰化法8 h提速至1 h。方法的相对标准偏差为2.8%;标准曲线的线性相关系数为:0.999 5。

关 键 词:特性聚酯  X荧光光谱法  SiO2含量

Determination of silica content in polyester transition material by X-ray fluorescence spectrometry
Abstract:
Keywords:
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