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基于激光悬臂梁的纳米薄膜生长厚度原位检测方法
作者姓名:张宜旭  唐亮  唐焱  徐晋勇  屠金磊  张跃飞
作者单位:1. 桂林电子科技大学机电工程学院;2. 北京工业大学固体微结构与性能研究所
摘    要:针对现有材料表面镀膜装置缺乏表面质量监控和反馈系统,研制出一套基于激光微悬臂梁的纳米薄膜生长厚度检测系统。该平台由微悬臂梁、激光发射单元、压电陶瓷单元、光电探测器单元、伺服电机和人机界面组成。将检测结果反馈给镀膜系统,及时调整镀膜工艺参数,实现快速表征、精准镀膜。实验表明:该纳米薄膜生长厚度检测平台能够在镀膜过程中实时监控薄膜厚度,精度可达±3 nm。

关 键 词:扫描探针  微悬臂梁  压电陶瓷  原位检测
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