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| 一种FLEX系列FPGA测试建模方案 | |
| 引用本文： | 张俊,袁云华.一种FLEX系列FPGA测试建模方案[J].计算机与数字工程,2015(1):113-116,136. |
| 作者姓名： | 张俊 袁云华 |
| 作者单位： | 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所 |
| 摘 要： | 目前常用的FPGA器件测试方法为基于实际应用的编程测试方法,其关键在于选择什么样的测试模型。论文在研究了FPGA器件的结构和工作原理的基础上,提出一种可行性强、覆盖率高的测试模型建立方案,对逻辑单元、嵌入式阵列和I/O双向管脚的覆盖率可达100%,且功能简单、结构清晰,易于模拟测试向量和故障定位。 |
| 关 键 词： | FPGA测试 查找表 逻辑单元 测试模型 |
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