基于ATE的FPGA器件测试方案研究 |
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引用本文: | 焦亚涛,顾颖,石雪梅.基于ATE的FPGA器件测试方案研究[J].计算机与数字工程,2015(1):80-82. |
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作者姓名: | 焦亚涛 顾颖 石雪梅 |
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作者单位: | 航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室 |
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摘 要: | 在FPGA器件的测试领域,由于通用ATE的局限性,需要为ATE设计FPGA配置板。然而目前行业内通用的配置方案测试效率低、可移植性差,给FPGA器件测试程序的开发和测试都带来了很多不便。论文提出了一种新的FPGA多重自动配置技术,设计采用FPGA作为主控制器,大容量FLASH芯片用于存储目标FPGA的配置数据,具有大量存储、调取灵活、配置快速等优点,实现了Xilinx公司绝大部分不同型号的FPGA器件的多重、自动、快速重配置,有效地解决了原配置方案的弊端,提高了FPGA测试的效率。
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关 键 词: | FPGA 重配置 自动配置 |
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