FPGA可编程逻辑单元测试方法研究 |
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引用本文: | 邱云峰,秦鲁东.FPGA可编程逻辑单元测试方法研究[J].计算机与数字工程,2015(1):65-69. |
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作者姓名: | 邱云峰 秦鲁东 |
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作者单位: | 贵州航天计量测试技术研究所;贵州大学 |
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摘 要: | FPGA是广泛应用于集成电路设计,片上系统等多领域,随着FPGA的广泛应用,对其可靠性的要求也越来越高,由于其结构和功能复杂,其测试难度和成本也随之增加。文章简要介绍了SRAM型FPGA的逻辑单元(LE)的结构,提出了一种基于扫描链的逻辑资源遍历测试方法。以Altera公司FPGA为例,简述了在超大规模集成电路测试系统CATT-400上实现FPGA在线配置和功能测试方法。
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关 键 词: | FPGA 可编程逻辑单元 扫描链 重配置 自动化测试 |
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