DDS专用芯片静态参数测试方法研究

文章重点介绍了基于ATE设备的DDS专用芯片内嵌DAC静态参数的一种测试方法。由于DDS专用芯片的自身特点,其只能输出一定频率的正弦波,测试开发人员唯一能够控制的只有正弦波输出的频率和幅度。而正弦波电压是非线性的,所以利用线性斜波电压测试DAC的传统方法并不能用于DDS专用芯片的静态参数测试,只能依靠间接的方式测试其内嵌DAC的静态参数。该测试方法通过将正弦波的非线性幅值信息转换为线性的角度信息,实现了DDS专用芯片内嵌DAC的测试自动化,且测试过程高效可靠。