| 多层系统周期样品PSTM消假像微扰近似 |
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| 引用本文： | 王晓秋,简国树,吴世法,潘石.多层系统周期样品PSTM消假像微扰近似[J].电子显微学报,2001,20(5):654-657. |
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| 作者姓名： | 王晓秋 简国树 吴世法 潘石 |
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| 作者单位： | 1. 大连大学物理系;大连理工大学物理系
2. 大连理工大学物理系, |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 (6 0 0 0 70 1)，科技部中国分析测试协会仪器功能开发基金 (GN - 99- 15 )~~ |
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| 摘 要： | 本文利用一级微扰近似方法对三层系统（样品台－样品－空气）表面周期起伏样品采用π－对称双激光束照射得到等强度和等高度扫描的数值模拟近场强度图像。通过与单激光束照射图像比较，作者看到双激光束照射下的一级微扰图像能够除去由样品表面起伏的微扰而产生的动量局域偏移，也可减少由表面倾角引起的假像。此三层系统起伏样品能够较真实地模拟实验，对PSTM的实际探测有一定的指导意义。
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| 关 键 词： | 光子扫描隧道显微镜 近场强度 消假像 多层系统 表面周期 PSTM 微扰近似 |
| 文章编号： | 1000-6281(2001)05-0654-04 |
A perturbation approach of a multilayer system to the periodic sample for eliminating false image of PSTM |
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| WANG Xiao qiu ,JIAN Guo shu ,WU Shi fa ,PAN Shi.A perturbation approach of a multilayer system to the periodic sample for eliminating false image of PSTM[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2001,20(5):654-657. |
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| Authors: | WANG Xiao qiu JIAN Guo shu WU Shi fa PAN Shi |
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| Affiliation: | WANG Xiao qiu 1,2,JIAN Guo shu 2,WU Shi fa 2,PAN Shi 2 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | photo scanning tunneling microscopy near field intensity reducing false image |
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