| 为探针卡制作本土化再作贡献 |
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| 引用本文： | 张宛平.为探针卡制作本土化再作贡献[J].电子工业专用设备,2007,36(2):4-5,57. |
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| 作者姓名： | 张宛平 |
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| 作者单位： | 上海依然半导体测试有限公司 |
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| 摘 要： | <正>集成电路设计业的兴旺带来大量的设计验证测试需求,测试既是集成电路产业链中的一环,也是集成电路产品验证出厂的关键,探针卡就是介于自动测试系统与IC芯片之间,用于封装前测试IC产品功能参数的精密界面卡,它与集成电路的设计和测试封装密不可分。
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| 关 键 词： | 探针卡 集成电路设计业 本土化 测试需求 制作 设计验证 自动测试系统 IC产品 |
| 文章编号： | 1004-4507（2007）02-0004-02 |
Contribution More For the Localization of the Probe Card Manufacture |
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| ZHANG Wan-ping.Contribution More For the Localization of the Probe Card Manufacture[J].Equipment for Electronic Products Marufacturing,2007,36(2):4-5,57. |
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| Authors: | ZHANG Wan-ping |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | |
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