|
|||||
|
|
| 基于S3C4510B的嵌入式系统调试技术 | |
| 引用本文： | 马学文,朱名日. 基于S3C4510B的嵌入式系统调试技术[J]. 单片机与嵌入式系统应用, 2004, 0(5): 67-68 |
| 作者姓名： | 马学文 朱名日 |
| 作者单位： | 桂林工学院;中南大学 |
| 摘 要： | 随着社会需求的增高,为满足嵌入式系统对高处理能力、实时多任务、网络通信、超低功耗的需求,越来越多的32位微处理器用在了设备中。但国内开发者长期都是在8位低端单片机领域进行开发的,对高端产品的调试没有多少可以借鉴的经验。基于该情况,我将参加广西区科技攻关项目“基于 |
| 关 键 词： | S3C4510B 嵌入式系统 调试技术 微处理器 ARM内核 JTAG技术 |
| 修稿时间： | 2003-11-19 |
Debugging Technology Based on S3C4510B for Embedded Systems |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |