X射线荧光光谱用的玻璃薄膜标准物

美国国家标准局的Pella等制造了两种标准物SRM 1832(Al、Si、Ca、V、Mn、Co和Cu)和SRM1833(Si、K、Ti、Fe、Zn和Pb),验证了它们的元素均匀性、组成和对水的灵敏度。这两种标准物用于x射线荧光光谱仪的校正,特别是过滤介质上收集到空载颗粒物的元素分析。这种硅石基的玻璃膜厚0.5～0.6微米,是用离子束聚焦涂敷法沉积在聚碳酸酯层上的,其中含有已知量选定的元素氧化物。