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基于VXI总线通用型集成运放测试系统设计
引用本文:殷贤华,梁光发.基于VXI总线通用型集成运放测试系统设计[J].计算机测量与控制,2010,18(12).
作者姓名:殷贤华  梁光发
摘    要:根据集成运算放大器参数自动测试的需要,在深入研究集成运放测试电路和虚拟仪器技术、VXI总线自动测试系统的基础上,设计了VXI总线集成运放测试系统;应用加锁和解锁技术,使局域网终端能够共享测试系统,应用IVI仪器驱动器技术,使测试系统具有可互换性;实验证明,测试系统能够对通用型单运放、双运放和四运放集成电路开环差模电压放大倍数、最大输出电压和频率特性等参数进行自动测试,并自动生成测试报告;结果正确,精度高,速度快,便于共享和维护,有效提高了集成运放的测试效率和可靠性.

关 键 词:虚拟仪器  VXI测试系统  运放参数

Design of Test System for Universal Integrated Operational Amplifier Based on VXI Bus
Yin Xianhua,Liang Guangfa.Design of Test System for Universal Integrated Operational Amplifier Based on VXI Bus[J].Computer Measurement & Control,2010,18(12).
Authors:Yin Xianhua  Liang Guangfa
Abstract:
Keywords:
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