| X射线衍射线形宽化时点阵参数精确测定的解卷积法 |
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| 引用本文： | 梁志德,田鹏,刘刚. X射线衍射线形宽化时点阵参数精确测定的解卷积法[J]. 理化检验(物理分册), 2002, 38(6): 249-250,270 |
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| 作者姓名： | 梁志德 田鹏 刘刚 |
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| 作者单位： | 1. 东北大学,沈阳,110004
2. 中科院金属研究所,沈阳,110015 |
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| 摘 要： | 证明了在X射线衍射线形分析中如以标样衍射线形g/(x)的kal峰位为坐标原点O解卷，则解得的宽化函数f/(x)的峰位恰与试样相应衍射线中kal的位置相同。据此，提出一解卷积法。方法是在解卷后将标样的已准确测知kal峰位的Bragg角2θg值加上f(x)的峰位值即得出试样相应衍射线形中kal的准确Bragg角2θh。从而算得试样的精确点阵参数。
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| 关 键 词： | 线形宽化 精确测定 X射线衍射 线形分析 点阵参数 解卷积法 金属材料 晶体分析 |
| 文章编号： | 1001-4012(2002)06-0249-02 |
PRECISION MEASUREMENT OF CRYSTAL LATTICE PARAMETERS WITH BROADENED X-RAY DIFFRACTION LINE PROFILE ACCORDING TO THE DECONVOLUTION METHOD |
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| LIANG Zhi de,TIAN Peng. PRECISION MEASUREMENT OF CRYSTAL LATTICE PARAMETERS WITH BROADENED X-RAY DIFFRACTION LINE PROFILE ACCORDING TO THE DECONVOLUTION METHOD[J]. Physical Testing and Chemical Analysis Part A:Physical Testing, 2002, 38(6): 249-250,270 |
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| Authors: | LIANG Zhi de TIAN Peng |
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| Keywords: | X ray diffraction Line profile analysis Lattice parameters Deconvolution method |
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