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| 光机扫描装置的噪声分析 | |
| 引用本文： | 文阳.光机扫描装置的噪声分析[J].激光与红外,1980(6). |
| 作者姓名： | 文阳 |
| 摘 要： | 对于发光物体的扫描,广泛采用调制盘光机扫描。有些使用带阿基米德螺旋形扫描缝隙的不透明的调制盘作扫描元件。旋转调制盘时由缝隙对物体进行扫描。制造调制盘用光蚀法,可得到图形极其一致的扫描缝隙。使用这类调制盘扫描元件装置时,由于所分析的缝隙宽度不均匀、狭缝中心对阿基米德螺旋线有所偏移、光电接收器的频谱特 |
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