| 二控三型TSC快速重复投切晶闸管闭锁问题研究 |
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| 引用本文： | 张维,肖国春,胡磊磊,王兆安. 二控三型TSC快速重复投切晶闸管闭锁问题研究[J]. 电工技术学报, 2012, 0(12): 109-116 |
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| 作者姓名： | 张维 肖国春 胡磊磊 王兆安 |
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| 作者单位： | 西安交通大学电气工程学院 |
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| 摘 要： | 基于零过渡投切原则,对低压配电系统常用的二控三型TSC装置电容器组快速重复投切时出现晶闸管闭锁现象的发生过程进行了详细地分析,并对发生该现象的概率进行了计算。结合实际情况分析了电容器组损耗、放电电阻及残压等参数对重复投切时间响应的影响,并对防止出现晶闸管闭锁现象提出了解决方法,提高了TSC装置的响应速度和可靠性。通过仿真和实验对上述理论研究结果进行了验证,为设计快速响应的TSC装置提供了依据。
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| 关 键 词： | 晶闸管投切电容器 过零投切 重复投切 闭锁 概率 |
Thyristors Latch-up Phenomenon in a TSC with Capacitor Banks Switched Repeatedly |
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| Zhang Wei Xiao Guochun Hu Leilei Wang Zhaoan. Thyristors Latch-up Phenomenon in a TSC with Capacitor Banks Switched Repeatedly[J]. Transactions of China Electrotechnical Society, 2012, 0(12): 109-116 |
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| Authors: | Zhang Wei Xiao Guochun Hu Leilei Wang Zhaoan |
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| Affiliation: | Zhang Wei Xiao Guochun Hu Leilei Wang Zhaoan(Xi’an Jiaotong University Xi’an 710049 China) |
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