| 基于斜率特征的模拟电路故障诊断新方法 |
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| 引用本文： | 韩涵,王厚军,杨成林.基于斜率特征的模拟电路故障诊断新方法[J].测控技术,2014,33(1):34-37. |
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| 作者姓名： | 韩涵 王厚军 杨成林 |
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| 作者单位： | 电子科技大学 自动化工程学院;电子科技大学 自动化工程学院;电子科技大学 自动化工程学院 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(61071029, 60934002)；电子科技大学中青年学术带头人培养计划项目（Y02018023601059） |
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| 摘 要： | 针对低可测性模拟电路存在的模糊组问题,提出一种模拟电路故障诊断新方法。利用不同元件在电路可及节点间的斜率特征关系建立斜率测试矩阵,依据斜率测试矩阵准确找到电路中存在的模糊组和独立可测元件,从而确定可诊断集,然后利用支持向量机对故障进行诊断。斜率法优点在于不需要对电路拓扑结构进行分析,计算简便,支持向量机结构简单,泛化能力强。实验表明该方法具有良好的模拟电路故障诊断效果。
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| 关 键 词： | 模拟电路 故障诊断 可测性 斜率特征 |
A New Method for Analog Circuit Fault Diagnosis Based on Slope Characteristics |
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| Keywords: | analog circuit fault diagnosis testability slope characteristics |
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