基于电路分割的低功耗扫描测试 |
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引用本文: | 仇健乐,王世明,郭筝.基于电路分割的低功耗扫描测试[J].集成电路应用,2005(5):52-55. |
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作者姓名: | 仇健乐 王世明 郭筝 |
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作者单位: | 上海交通大学电子工程系200030 |
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摘 要: | 本文基于电路分割的思想提出了一种低功耗扫描测试方法。该思想主要是将原始电路分成不同的几部分,每个部分能够单独进行扫描测试,通过减少同时被测的扫描寄存器的数量来达到降低测试功耗的目的。实验证明该方法使得扫描测试中的峰值功耗降低了60%,并且通过在电路中加入适当的wrapper结构,有效地解决了由于电路分割造成的故障覆盖率损失。
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关 键 词: | 扫描测试 低功耗 电路 分割 wrapper 故障覆盖率 测试方法 实验证明 寄存器 思想 |
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