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氨化Si基Ga2O3/Ti制备GaN纳米线
引用本文:孙莉莉,薛成山,艾玉杰,孙传伟,庄惠照,张晓凯,王福学,陈金华,李红. 氨化Si基Ga2O3/Ti制备GaN纳米线[J]. 功能材料, 2007, 38(2): 259-260,264
作者姓名:孙莉莉  薛成山  艾玉杰  孙传伟  庄惠照  张晓凯  王福学  陈金华  李红
作者单位:山东师范大学,半导体研究所,山东,济南,250014;济南大学,信息科学与工程学院,山东,济南,250022
基金项目:国家自然科学基金 , 国家自然科学基金
摘    要:采用磁控溅射技术先在硅衬底上制备Ga2O3/Ti薄膜,然后在950℃时于流动的氨气中进行氨化反应制备GaN薄膜.X射线衍射(XRD)、傅立叶红外吸收光谱(FTIR)、选区电子衍射(SAED)和高分辨透射电子显微镜(HRTEM)的结果表明采用此方法得到了六方纤锌矿结构的GaN单晶纳米线.通过扫描电镜(SEM)观察发现纳米线的形貌,纳米棒的尺寸在50~150nm之间.

关 键 词:磁控溅射  氨化  GaN薄膜  Ti
文章编号:1001-9730(2007)02-0259-02
修稿时间:2006-08-212006-10-16

Synthesis of GaN nanowires by ammoniating sputtered Ga2O3/Ti films on Si substrates
SUN Li-li,XUE Cheng-shan,AI Yu-jie,SUN Chuan-wei,ZHUANG Hui-zhao,ZHANG Xiao-kai,WANG Fu-xue,CHEN Jin-hua,LI Hong. Synthesis of GaN nanowires by ammoniating sputtered Ga2O3/Ti films on Si substrates[J]. Journal of Functional Materials, 2007, 38(2): 259-260,264
Authors:SUN Li-li  XUE Cheng-shan  AI Yu-jie  SUN Chuan-wei  ZHUANG Hui-zhao  ZHANG Xiao-kai  WANG Fu-xue  CHEN Jin-hua  LI Hong
Abstract:GaN thin films were successfully prepared on the Si(111) substrates through ammoniating Ga2O3/Ti thin films deposited by magnetron sputtering.The results of XRD,FTIR,SAED and HRTEM confirm that the as-grown films are single-crystal hexagonal GaN with wurtzite structure.We observed the morphology of GaN nanorods by SEM,we found that the diameter of GaN nanorods between 50 to 150nm.
Keywords:rapid solidification   TiNi-Cu alloy   annealing temperature   microstructure
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