| 电子背散射衍射分析技术的应用 |
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| 引用本文： | 李凡,黄海波,王雷. 电子背散射衍射分析技术的应用[J]. 理化检验(物理分册), 2007, 43(10): 505-508,516 |
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| 作者姓名： | 李凡 黄海波 王雷 |
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| 作者单位： | 东南大学,分析测试中心,南京,210096 |
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| 摘 要： | 简要介绍了电子背散射衍射分析技术的基本原理和特点,并通过用电子背散射衍射分析方法对几种晶体材料(包括试样的制备)在物相鉴定、晶体取向、晶粒尺寸及晶界分布、材料失效机理等方面的实例分析表明,该技术是一种揭示晶体材料微观结构的很好的方法.
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| 关 键 词： | 电子背散射衍射 晶体材料 应用实例 |
| 文章编号： | 1001-4012（2007）10-0505-04 |
| 收稿时间： | 2006-11-01 |
| 修稿时间： | 2006-11-01 |
APPLICATION OF ELECTRON BACK-SCATTER DIFFRACTION ANALYSIS TECHNIQUE |
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| LI Fan,HUANG Hai-bo,WANG Lei. APPLICATION OF ELECTRON BACK-SCATTER DIFFRACTION ANALYSIS TECHNIQUE[J]. Physical Testing and Chemical Analysis Part A:Physical Testing, 2007, 43(10): 505-508,516 |
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| Authors: | LI Fan HUANG Hai-bo WANG Lei |
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| Affiliation: | The Center of Analysis and Testing, Southeast University, Nanjing 210096, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Electron backscatter diffraction Crystalline materials Application examples |
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