| 密闭环境下高压电缆终端硅油劣化特性 |
| |
| 引用本文： | 张静,蔡玉汝,张小军,陈佳,程立丰,张伟超.密闭环境下高压电缆终端硅油劣化特性[J].绝缘材料,2023(6):40-45. |
| |
| 作者姓名： | 张静 蔡玉汝 张小军 陈佳 程立丰 张伟超 |
| |
| 作者单位： | 1. 南瑞集团(国网电力科学研究院)有限公司;2. 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司;3. 国网新疆电力有限公司电力科学研究院;4. 哈尔滨理工大学电气与电子工程学院 |
| |
| 基金项目： | 国家电网有限公司科技项目（5500-202326176A-1-1-ZN）； |
| |
| 摘 要： | 为研究密闭环境下高压电缆终端硅油中水分析出原因及其劣化后的性能参数，以填充于电缆终端内部的TR50绝缘硅油为研究对象，搭建了密闭环境的电、热老化试验平台，测试了不同老化状态下硅油的理化性能与电气性能。结果表明：电老化与热老化均能引起硅油的水分析出，90℃热老化与低能局部放电对硅油理化及电气性能的劣化影响较小，间歇火花放电及持续电弧放电对硅油理化及电气性能的劣化影响较大，其中击穿电压、介质损耗因数、体积电阻率和含水量的相关性较大，这些指标可有效表征硅油的劣化程度。
|
| 关 键 词： | 硅油 电缆终端 密闭环境 水分 热老化 电老化 |
|
|
