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| 一种高值绝缘电阻的测试方法 | |
| 引用本文： | 高广淦.一种高值绝缘电阻的测试方法[J].高电压技术,1987(4). |
| 作者姓名： | 高广淦 |
| 作者单位： | 武汉高压研究所 |
| 摘 要： | 充电电容对高值电阻放电,只要测量电容电压衰减的时间就可以算出电阻大小。利用这种方法测试高值绝缘电阻特别有效,准确度高,测量范围广,在测试10~(14)Ω的高值电阻时可有满意的准确度,还可进一步扩大量限,降低误差。 |
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