电流作用下Cu/Sn-15Bi/Cu焊点的组织演变 |
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引用本文: | 郭沁涵,赵振江,沈春龙.电流作用下Cu/Sn-15Bi/Cu焊点的组织演变[J].焊接学报,2017,38(10):103-106. |
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作者姓名: | 郭沁涵 赵振江 沈春龙 |
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作者单位: | 泰州学院船舶与机电工程学院,泰州,225300 |
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基金项目: | 泰州学院校级课题资助项目,泰州学院优秀青年教师培养资助计划项目 |
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摘 要: | 对Cu/Sn-15Bi/Cu焊点在150℃下的电迁移组织演变进行了研究. 结果表明,焊点阳极侧出现了近共晶相的偏聚,近共晶相厚度随电迁移时间的延长而逐渐增加;受“电子风”力的影响,钎料中Cu6Sn5金属间化合物逐渐向阳极侧偏聚,此外,由于阴极侧Cu6Sn5界面金属间化合物的脱落,钎料中的Cu6Sn5金属间化合物体积分数逐渐增加;焊点阴极侧界面金属间化合物厚度随电迁移时间延长逐渐增加,阳极侧界面金属间化合物厚度随电迁移时间延长先增加,后降低,当电迁移时间超过5 h后,界面金属间化合物厚度迅速增加.
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关 键 词: | 锡铋合金 电迁移 共晶层 偏聚 金属间化合物 |
收稿时间: | 2017/7/30 0:00:00 |
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