喇曼光谱方法测量金属表面氧化膜的残余应力 |
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引用本文: | 李美栓,辛丽,余家康,李铁藩. 喇曼光谱方法测量金属表面氧化膜的残余应力[J]. 中国腐蚀与防护学报, 1999, 19(3): 185-188 |
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作者姓名: | 李美栓 辛丽 余家康 李铁藩 |
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作者单位: | 中国科学院金属腐蚀与防护研究所!金属腐蚀与防护国家重点实验室,沈阳,110015(李美栓,辛丽,余家康),中国科学院金属腐蚀与防护研究所!金(李铁藩) |
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基金项目: | 国家自然科学基金!59701010 |
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摘 要: | 利用表面增强激光喇曼光谱仪测量了Fecrallor(Fe-22Cr-5Al-0.3Y)合金表面Al2O3膜及Co-40-Cr合金表面Cr2O3膜的残余应力.实验条件下,两种氧化膜残余应力值分别为2GPa和1.7GPa.如果Co-40Cr合金离子注入3×1017Y /cm2;或者Cr2O3膜发生破裂,Cr2O3膜的残余应力值显著降低.该测试方法简便,并可用于测量氧化膜内微区应力及应力分布,还可实现高温下原位测量氧化股应力.
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关 键 词: | 氧化膜 残余应力 激光喇曼 高温氧化 测量 |
MEASUREMENTS OF RESIDUAL STRESS IN OXIDE SCALES BY RAMAN SPECTROSCOPY |
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