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喇曼光谱方法测量金属表面氧化膜的残余应力
引用本文:李美栓,辛丽,余家康,李铁藩. 喇曼光谱方法测量金属表面氧化膜的残余应力[J]. 中国腐蚀与防护学报, 1999, 19(3): 185-188
作者姓名:李美栓  辛丽  余家康  李铁藩
作者单位:中国科学院金属腐蚀与防护研究所!金属腐蚀与防护国家重点实验室,沈阳,110015(李美栓,辛丽,余家康),中国科学院金属腐蚀与防护研究所!金(李铁藩)
基金项目:国家自然科学基金!59701010
摘    要:利用表面增强激光喇曼光谱仪测量了Fecrallor(Fe-22Cr-5Al-0.3Y)合金表面Al2O3膜及Co-40-Cr合金表面Cr2O3膜的残余应力.实验条件下,两种氧化膜残余应力值分别为2GPa和1.7GPa.如果Co-40Cr合金离子注入3×1017Y /cm2;或者Cr2O3膜发生破裂,Cr2O3膜的残余应力值显著降低.该测试方法简便,并可用于测量氧化膜内微区应力及应力分布,还可实现高温下原位测量氧化股应力.

关 键 词:氧化膜 残余应力 激光喇曼 高温氧化 测量

MEASUREMENTS OF RESIDUAL STRESS IN OXIDE SCALES BY RAMAN SPECTROSCOPY
Abstract:
Keywords:
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