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C、Hf薄膜抑制栅极电子发射的机理研究
引用本文:吴雪梅,诸葛兰剑,柳襄怀. C、Hf薄膜抑制栅极电子发射的机理研究[J]. 功能材料, 2005, 2(Z1): 28-30
作者姓名:吴雪梅  诸葛兰剑  柳襄怀
作者单位:1. 苏州大学,物理系,江苏省薄膜材料重点实验室,江苏,苏州,215006
2. 中国科学院,上海微系统与信息技术研究所,上海,200050
基金项目:国家自然科学基金资助项目(10275047);973重大项目基础研究资助项目(G2000067207-2)
摘    要:利用双离子束溅射和射频磁控溅射技术在Mo基底上分别制备了C膜和Hf膜,并利用化学方法制备了BaO涂层以模拟行波管栅极结构,随后在N2保护下,通过在900~1300K范围内退火,研究样品处于高温工作环境下表面相结构和成分的变化,以此解释了C、Hf薄膜抑制栅极电子发射的工作机理.

关 键 词:栅发射  C薄膜  Hf薄膜  BaO
修稿时间:2005-05-20

The mechanism of suppressing grid emission using carbon or hafnium thin film
WU Xue-mei,ZHUGE Lan-jian,LIU Xiang-huai. The mechanism of suppressing grid emission using carbon or hafnium thin film[J]. Journal of Functional Materials, 2005, 2(Z1): 28-30
Authors:WU Xue-mei  ZHUGE Lan-jian  LIU Xiang-huai
Abstract:
Keywords:
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