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离子损伤对等离子体辅助分子束外延生长的 Ga NAs/ Ga As和Ga In NAs/ Ga As量子阱的影响
引用本文:李联合,潘钟,张伟,林耀望,王学宇,吴荣汉. 离子损伤对等离子体辅助分子束外延生长的 Ga NAs/ Ga As和Ga In NAs/ Ga As量子阱的影响[J]. 半导体学报, 2001, 22(1): 31-34
作者姓名:李联合  潘钟  张伟  林耀望  王学宇  吴荣汉
作者单位:中国科学院半导体研究所集成光电子开放实验室,北京100083
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划);G2000036603;
摘    要:研究了离子损伤对等离子体辅助分子束外延生长的 Ga NAs/ Ga As和 Ga In NAs/ Ga As量子阱的影响 .研究表明离子损伤是影响 Ga NAs和 Ga In NAs量子阱质量的关键因素 .去离子磁场能有效地去除了等离子体活化产生的氮离子 .对于使用去离子磁场生长的 Ga NAs和 Ga In NAs量子阱样品 ,X射线衍射测量和 PL 谱测量都表明样品的质量被显著地提高 .Ga In As量子阱的 PL 强度已经提高到可以和同样条件下生长的 Ga In As量子阱相比较 .研究也表明使用的磁场强度越强 ,样品的光学质量提高越明显

关 键 词:Ga(In)NAs   分子束外延(MBE)   离子损伤   X射线衍射   光致发光
文章编号:0253-4177(2001)01-0031-04
修稿时间:2000-07-11

Wells Grown by Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy: Effects of Ion Damage
LI Lian-he,PAN Zhong,ZHANG Wei,LIN Yao-wang,WANG Xue-yu,WU Rong-han. Wells Grown by Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy: Effects of Ion Damage[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2001, 22(1): 31-34
Authors:LI Lian-he  PAN Zhong  ZHANG Wei  LIN Yao-wang  WANG Xue-yu  WU Rong-han
Abstract:
Keywords:Ga(In)NAs  molecular beam epitaxy (MBE)  ion damage  X-ray  photoluminescence (PL)
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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