| 磁性测厚仪的测量系统分析 |
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| 引用本文： | 杨志业,李阳,王进军,耿莽河,郭燕. 磁性测厚仪的测量系统分析[J]. 电镀与涂饰, 2022, 41(4): 295-297. DOI: 10.19289/j.1004-227x.2022.04.013 |
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| 作者姓名： | 杨志业 李阳 王进军 耿莽河 郭燕 |
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| 作者单位： | 沈阳飞机工业(集团)有限公司,辽宁 沈阳 110034 |
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| 摘 要： | 根据测量系统分析方法，在镀层厚度为7.6～15.2μm的条件下对某磁性测厚仪的测量系统能力进行评估，并考察了基体粗糙度、校准方法和结果统计方法对测量系统能力的影响。结果表明，基体粗糙度(Ra)小于1.6μm，采用两点校准(含零点)，并以ASTM B499-09标准规定的舍点法进行统计时，测量系统能力较高，但仍不满足精确性公差比(P/T)小于30%的要求。
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| 关 键 词： | 镀层厚度 磁性法 测量系统能力 基体粗糙度 校准 读数 |
Measurement system analysis of magnetic thickness gauge |
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| YANG Zhiye,LI Yang,WANG Jinjun,GENG Manghe,GUO Yan. Measurement system analysis of magnetic thickness gauge[J]. Electroplating & Finishing, 2022, 41(4): 295-297. DOI: 10.19289/j.1004-227x.2022.04.013 |
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| Authors: | YANG Zhiye LI Yang WANG Jinjun GENG Manghe GUO Yan |
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