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一种基于CMOS工艺的欠压保护电路
引用本文:贺江平,张波,孙江.一种基于CMOS工艺的欠压保护电路[J].微电子学,2017,47(1):23-25.
作者姓名:贺江平  张波  孙江
作者单位:电子科技大学, 成都 610054,电子科技大学, 成都 610054,西南交通大学, 成都 610031
基金项目:国家自然科学基金资助项目(61504111)
摘    要:提出了一种基于标准CMOS工艺的欠压保护电路,能提供高精度的阈值电压和低温度漂移的上升阈值。在标准CMOS工艺中,利用横向PNP中VBE的负温特性与热电压VT的正温特性进行相互补偿,实现低的温度漂移特性。同时,欠压保护电路的阈值主要由电阻之间的比例决定,能获得高精度、高集中度的阈值电压,达到量产要求。

关 键 词:欠压保护    横向PNP    温度补偿
收稿时间:2015/12/31 0:00:00

A Novel Under-Voltage Protection Circuit Based on CMOS Process
HE Jiangping,ZHANG Bo and SUN Jiang.A Novel Under-Voltage Protection Circuit Based on CMOS Process[J].Microelectronics,2017,47(1):23-25.
Authors:HE Jiangping  ZHANG Bo and SUN Jiang
Affiliation:University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, P.R.China,University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, P.R.China and Southwest Jiaotong University, Chengdu 610031, P.R.China
Abstract:
Keywords:
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