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基于参考信号注入的TIADC时间失配校准算法
引用本文:尹勇生,汪涛,陈红梅,邓红辉. 基于参考信号注入的TIADC时间失配校准算法[J]. 微电子学, 2017, 47(2): 274-278
作者姓名:尹勇生  汪涛  陈红梅  邓红辉
作者单位:合肥工业大学 微电子设计研究所, 合肥 230009,合肥工业大学 微电子设计研究所, 合肥 230009,合肥工业大学 微电子设计研究所, 合肥 230009,合肥工业大学 微电子设计研究所, 合肥 230009
基金项目:安徽省科技攻关项目(JZ2014AKKG0430);中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(2014HGCH0010)
摘    要:提出了一种基于参考信号注入的TIADC时间失配后台校准算法。该校准算法统计通道间的参考信号过零点个数,比较相邻2个峰值的大小,计算得出误差系数,并将该误差系数反馈回时钟采样控制单元进行校正。采用Simulink软件建立12位5通道TIADC模型,仿真结果表明,当fin/fs≈0.040 3时,有效位数从8.1位提升到11.8位,验证了算法的可行性。算法中的时间失配误差提取与TIADC分开,并行处理,保证了输入信号在整个奈奎斯特频率范围内不受影响。该校准算法消耗资源少,易于硬件实现。

关 键 词:时间交织模数转换器  时间失配  后台校准  过零检测
收稿时间:2016-04-11

A Calibration Architecture for TIADC Timing Mismatch Based on Reference Signal Injection
YIN Yongsheng,WANG Tao,CHEN Hongmei and DENG Honghui. A Calibration Architecture for TIADC Timing Mismatch Based on Reference Signal Injection[J]. Microelectronics, 2017, 47(2): 274-278
Authors:YIN Yongsheng  WANG Tao  CHEN Hongmei  DENG Honghui
Affiliation:Institute of VLSI Design, Hefei University of Technology, Hefei 230009, P. R. China,Institute of VLSI Design, Hefei University of Technology, Hefei 230009, P. R. China,Institute of VLSI Design, Hefei University of Technology, Hefei 230009, P. R. China and Institute of VLSI Design, Hefei University of Technology, Hefei 230009, P. R. China
Abstract:
Keywords:
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