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伪火花放电开关的半导体氧化锌表面放电触发装置研究
引用本文:谢建民,陈景亮,邱毓昌.伪火花放电开关的半导体氧化锌表面放电触发装置研究[J].电工技术学报,2003,18(4):46-50.
作者姓名:谢建民  陈景亮  邱毓昌
作者单位:西安交通大学电气工程学院,710049
基金项目:国家自然科学基金重点资助项目 ( 10 0 3 5 0 2 0 )
摘    要:准确可靠的触发技术是伪火花开关研究中的一项重要内容。因为触发方案的选择不仅关系到开关电极的结构设计 ,而且对开关的工作电压范围 ,频率和寿命有很大影响。本文首次采用半导体氧化锌 (ZnO)为材料 ,设计了伪火花开关的表面放电触发器 ,该触发器体积小 ,结构简单 ,可焙烧 ,大量实验 (>1 0 5次 )表明 ,其可靠性高 ,寿命长 ,用它触发的伪火花开关 (放电电压 30~ 2kV)具有稳定的放电时延 (80~ 4 0 0ns)和时延抖动 (2 0~ 5 0ns) ,由于触发电流大 ,因而可以在极低的开关电压下触发开关 ,对着火电压 30kV的伪火花开关 ,其最低可触发开关电压可至 4 40V。

关 键 词:伪火花放电开关  脉冲功率技术  氧化锌表面放电触发  空心阴极效应
修稿时间:2003年3月5日

Semiconductor(ZnO) Surface Flashover Triggering of Pseudospark Switchers
Xie Jianmin Chen Jingliang Qiu Yuchang.Semiconductor(ZnO) Surface Flashover Triggering of Pseudospark Switchers[J].Transactions of China Electrotechnical Society,2003,18(4):46-50.
Authors:Xie Jianmin Chen Jingliang Qiu Yuchang
Affiliation:Xi'an Jiaotong University 710049 China
Abstract:
Keywords:Pseudospark switch  pulsed power technology  ZnO surface flashover trigger  hollow cathode effect
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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