| 数字射频存储器用DAC静态参数的表征与测试 |
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| 引用本文： | 张有涛,夏冠群,李拂晓,高建峰,杨乃彬涛,杨乃彬. 数字射频存储器用DAC静态参数的表征与测试[J]. 半导体学报, 2005, 26(4): 781-785 |
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| 作者姓名： | 张有涛 夏冠群 李拂晓 高建峰 杨乃彬涛 杨乃彬 |
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| 作者单位： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所，中国科学院上海微系统与信息技术研究所，南京电子器件研究所，南京电子器件研究所，南京电子器件研究所 上海200050，南京电子器件研究所，南京210016，上海200050，南京210016，南京210016，南京210016 |
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| 摘 要： | 分析并讨论了应用于相位体制数字射频存储器的DAC静态参数的表征方法．提出用时间非线性（TDNL和TINL）、幅度非线性（ADNL和AINL）以及相位非线性（PNL）来全面描述相位体制DAC的静态性能．仿真结果证明上述静态参数对DAC的频域性能有着显著影响，用它们表征相位体制DAC的静态性能是必要且可行的．采用上述方法对利用标准75mm GaAs MESFET全离子注入工艺流片得到的3bit相位体制DAC进行了低频静态测试，其静态参数优异，性能良好．
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| 关 键 词： | 静态参数；数模转换器；非线性；表征 |
| 文章编号： | 0253-4177(2005)04-0781-05 |
| 修稿时间： | 2004-05-20 |
Static Performance Characterization and Testing of DAC for Digital Radio Frequency Memory |
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| Zhang Youtao,Xia Guanqun,Li Fuxiao,GAO Jianfeng,Yang Naibin. Static Performance Characterization and Testing of DAC for Digital Radio Frequency Memory[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2005, 26(4): 781-785 |
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| Authors: | Zhang Youtao Xia Guanqun Li Fuxiao GAO Jianfeng Yang Naibin |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | static parameter digital to analog converter linearity characterization |
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