| 污秽对红外成像法检测劣化绝缘子的影响 |
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| 引用本文： | 蒋兴良,夏强峰.污秽对红外成像法检测劣化绝缘子的影响[J].高电压技术,2010,36(7):1619-1624. |
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| 作者姓名： | 蒋兴良 夏强峰 |
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| 作者单位： | 重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室,重庆,400030 |
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| 基金项目： | 国家重点基础研究发展计划(973计划)，输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室自主研究项目 |
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| 摘 要： | 瓷绝缘子串中劣化绝缘子的存在将威胁电力系统的安全运行。为此通过实验室和现场试验研究了不考虑环境因素时污秽对红外成像法检测劣化绝缘子的影响,其中重点分析了污秽轻重和其状态、污秽劣化绝缘子的位置、型式、布置方式、表面颜色,检测距离对红外成像法检测劣化绝缘子的影响。研究结果表明:绝缘子表面干燥污秽存在有利于红外成像法的检测;湿润污秽和绝缘子表面颜色及布置方式会影响检测的准确性;绝缘子型式和污秽度大小对红外成像法的检测基本无影响;红外成像法易于检测绝缘子串高压端的污秽劣化绝缘子,低压端次之,中部最低。因此,红外成像法可以实现非接触式检测污秽劣化绝缘子。
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| 关 键 词： | 污秽 检测 劣化绝缘子 红外成像法 泄漏电流 电压分布 |
Influence of Contamination to Infrared Imaging Method Detecting Deterioration Insulators |
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| JIANG Xing-liang
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XIA Qiang-feng.Influence of Contamination to Infrared Imaging Method Detecting Deterioration Insulators[J].High Voltage Engineering,2010,36(7):1619-1624. |
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| Authors: | JIANG Xing-liang XIA Qiang-feng |
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| Affiliation: | (State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology,Chongqing Unversity,Chongqing 400030,China) |
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