V6000：闪存及DRAM测试系统

惠瑞捷宣布推出V6000测试系统，可在同一套自动化测试设备（ATE）机台上，测试快闪和DRAM内存，测试成本低于现有的解决方案。V6000可调整适用于半导体内存的各个测试阶段，包括工程测试、晶圆检测（Wafer Sort）、以及终程测试（Final Test）等。