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基于图像仿真处理的光学元件检测
引用本文:郭龙,彭云峰,张瑞.基于图像仿真处理的光学元件检测[J].机电技术,2013(6):61-63,69.
作者姓名:郭龙  彭云峰  张瑞
作者单位:厦门大学物理与机电工程学院机电系,福建厦门361005
摘    要:基于图像拼接与处理来实现非球面光学元件的初步检测,CCD摄像头首先将采集到的视频信号数据经DM642芯片转换成YuV格式,接着将Y信号(灰度信号)经JTAG口运用RTDX(Real—TimeDateExchange)技术传输到主机端,主机端利用matlab处理接收到的图像灰度数据,采用harris角点算法提取f}{图像角点,运用归一互相关法对角点进行匹配并拼接图像,最后运用sobel算法和canny算法对拼接后的图像进行轮廓提取处理,能有效观测到大尺寸光学元件表面裂纹、划痕等缺陷分布,可以验证这是一种有效的非球面光学元件进行精密加工前的检测方法。

关 键 词:光学元件  RTDX  图像拼接  图像检测
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