Si_3N_4晶界相的电子显微镜和EDS能谱研究 |
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作者姓名: | 冯景伟 温树林 严东生 |
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作者单位: | 中国科学院上海硅酸盐研究所,中国科学院上海硅酸盐研究所,中国科学院上海硅酸盐研究所 |
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摘 要: | 对于重烧结以及重烧结后再进行热处理的Si_3N_4样品分别进行了透射电子显微镜和能量色散谱EDS分析。在重烧结但未经热处理样品中发现,无论是三晶粒晶界还是两晶粒晶界相,主要是含钇的玻璃相。在重烧结又经热处理样品中,发现三晶粒的晶界相大部已转为YAG晶体。二晶粒晶界仍有极少量的玻璃相。我们的结果指出,正是晶界玻璃相结晶化,提高了材料的高温强度。本工作还发现,经热处理的样品中Si_3N_4晶界处的YAG相具有区域性择优取向。这可能是影响力学性能的重要因素。
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