首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

Pt/CdS Schottky紫外探测器的光电性能研究
引用本文:姚官生, 张向锋, 丁嘉欣, 吕衍秋. Pt/CdS Schottky紫外探测器的光电性能研究[J]. 红外技术, 2014, (6): 443-445.
作者姓名:姚官生  张向锋  丁嘉欣  吕衍秋
作者单位:姚官生:中国空空导弹研究院,河南洛阳, 471009红外探测器技术航空科技重点实验室,河南洛阳, 471009
张向锋:中国空空导弹研究院,河南洛阳, 471009红外探测器技术航空科技重点实验室,河南洛阳, 471009
丁嘉欣:中国空空导弹研究院,河南洛阳, 471009
吕衍秋:中国空空导弹研究院,河南洛阳, 471009红外探测器技术航空科技重点实验室,河南洛阳, 471009
摘    要:制备了Pt/CdS Schottky紫外探测器,对Pt/CdS Schottky紫外芯片对中波红外(3~5μm)的透过率进行了研究,并对器件光电性能进行了测试分析。通过优化 Pt 电极制备条件及对 SiO2增透膜的研究,使Pt/CdS Schottky紫外芯片对中波红外波段的透过率达到85%。室温300 K下,所制备Pt/CdS Schottky紫外探测器在零偏压处的背景光电流为-0.063 nA,在+6 V时的暗电流密度为7.6×10-7 A/cm2,R0A达到7.2×104?·cm2,其50%截止波长为510 nm。

关 键 词:Pt/CdS  Schottky  紫外探测器  红外透过率
收稿时间:2014-01-23

Research on the Photoelectric Characteristics of the Pt/CdS Schottky UV Detector
YAO Guan-sheng, ZHANG Xiang-feng, DING Jia-xin, LV Yan-qiu. Research on the Photoelectric Characteristics of the Pt/CdS Schottky UV Detector[J]. Infrared Technology , 2014, (6): 443-445.
Authors:YAO Guan-sheng  ZHANG Xiang-feng  DING Jia-xin  LV Yan-qiu
Abstract:
Keywords:Pt/CdS,Schottky,ultraviolet detector,infrared transmittance
点击此处可从《红外技术》浏览原始摘要信息
点击此处可从《红外技术》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号